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干涉仪的检测原理和测量原理都是基于光的干涉现象。
干涉仪的检测原理主要利用光的干涉现象来检测物体的表面形状、厚度、光学特性等，它通过将待测物体置于两束相干光的干涉场中，观察干涉条纹的变化，从而获取物体的相关信息，干涉仪通过比较干涉条纹的位移、形状和分布等特征，可以对待测物体的表面质量进行评估，这种检测方式具有高灵敏度和高精度，广泛应用于光学、机械、电子等领域。
干涉仪的测量原理则是通过测量干涉条纹的位移或变化来确定待测物体的某些物理量，如长度、厚度、折射率等，干涉仪通常由光源、干涉系统（包括分束器、参考镜和测量镜等）以及检测系统组成，当光束经过干涉系统后，会产生干涉条纹，这些条纹的间距和分布与待测物体的某些物理量有关，通过测量干涉条纹的位移或变化，结合已知的校准数据，可以计算出待测物体的相关物理量。
干涉仪的检测原理和测量原理都是基于光的干涉现象，通过观测和分析光的干涉条纹来获取物体的相关信息，从而实现高精度的检测与测量。